Auf der LASER World of PHOTONICS feierte das neue Ophir® BeamWatch® Plus Strahl-
analysesystem von MKS Instruments Premiere. Das berührungslos arbeitende Messgerät
ermittelt Fokusshift, Fokusgröße sowie Position von industriellen Hochleistungslasern. Als
Weiterentwicklung des bisherigen BeamWatch Systems misst BeamWatch Plus zusätz-
lich zu den NIR-Wellenlängen auch Hochleistungslaser in VIS-Wellenlängen (420 nm -
635 nm) – allen voran grüne und blaue Laser.
BeamWatch Plus ist das industrieweit einzige Strahlprofilanalysegerät, das die Laserpara-
meter schnell und präzise misst, ohne Kontakt mit dem Laserstrahl zu haben. Das System
ermittelt die relevanten Parameter über kontinuierliche Messungen der Rayleigh-Streuung
des Strahls. Dadurch lassen sich Fokusgröße, Strahlposition und die vollständige
Strahlkaustik direkt ermitteln. Aufgrund der kurzen Messzeit lassen sich auch dynamische
Messungen der Fokuslage, insbesondere beim Einschalten des Lasers, durchführen. Der
Laserstrahl kann in regelmäßigen Abständen gemessen werden, ohne dass der Laser-
prozess selbst komplett gestoppt werden muss oder umfangreiche Umbauten erforderlich
sind. Weitere Informationen erhalten Sie unter www.ophiropt.com

Ophir Spiricon Europe GmbH
(MKS Instruments)
Guerickeweg 7
64291 Darmstadt
Zentrale: +49 6151-708-0
E-Mail: Info-Ophir-EU@mksinst.com
www.ophiropt.com